« Conductive-Atomic Force Microscopy Investigation of the Electrical Properties of Low Temperature Deposed ZnO Transparent Thin Films », Ann_UGAL_MMS, vol. 38, nᵒ 2, p. 22–26, juin 2015, Consulté le: nov. 02, 2026. Disponible sur: https://ojs.ugal.ro/index.php/mms/article/view/1329